トップページ > 製品情報 > 光学検査機器 > 光学検査機器 > 全光束測定システム
全光束測定システム

LED照明・LEDバックライト・有機LED・UV LEDなどの光源を簡単な操作で高精度に色度、全光束などを測定します。

概要                         

全光束測定システムは、LED照明の測定規格IESNA(北米照明学会)が定めたLM-78、LM-79に準拠した2πおよび4π配光分布の光源の測定が可能です。

また、校正機能として JIS C8152に準拠した測定方法にて自己吸収補正および分光感度校正が可能です。

特長                         

◎ 積分球サイズの選択が可能(2インチから3mまで)

◎ 積分球内面を高耐候性材料による長期安定測定を可能

◎ 100,000lmまでの光源測定が可能
        「サテライト型積分球を測定ポートに設置可能」
        「検出器を高感度な冷却型BT-CCDと高Dレンジ型NMOSから選択可能」

◎ 各種光源に対応する支持治具とソケットを用意

◎ 標準LED互換ホルダの設置が可能

◎ 光源点灯電源と電力計および分光測定装置を自動制御して全光束を測定

◎ 自己吸収ランプによる自己吸収補正機能を装備

◎ 波長軸校正機能および分光感度校正機能を装備

◎ 日本語版、英語版、中国語版の専用ソフトウェアが標準添付

測定画面                       

 測定画面-3.png 測定画面-4.png

 

基本構成                       

◎    積分球

◎ 測定装置

◎ NIST準拠校正光源

◎ 自己吸収補正ランプ

◎ 低圧水銀ランプ

◎ 直流電源(必要に応じて交流電源や電力計)

◎ 専用ソフトウェア

測定項目                       

◎ 全光束(LF [lm])

◎ 放射束(RF[W])

◎ 発光効率(LE[lm/W])

◎ 色度(CIE x, y)、(CIE u, v)、(CIE u’, v’)

◎ 相関色温度(Tcp[K])

◎ 黒体放射軌跡偏差(Duv)

◎ 演色評価指数(CRI)

◎ 分光放射強度スペクトル([W/nm])

◎ 主波長及び各ピークの情報(半値幅)など




Copyright © 2020 ND SEIKO